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    薄膜沉積工藝

      信息來源:  TIME:2025-4-7  瀏覽:

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          按工藝原理不同,薄膜沉積設(shè)備可分為 PVD、CVD 和 ALD。薄膜沉積是在基材上沉積一層納米級的薄膜,再配合蝕刻和拋光等工藝的反復(fù)進行,就做出了很多堆疊起來的導(dǎo)電或絕緣層,而且每一層都具有設(shè)計好的線路圖案。沉積薄膜材料包括二氧化硅、氮化硅、多晶硅等非金屬以及銅等金屬。薄膜沉積設(shè)備主要負(fù)責(zé)各個步驟當(dāng)中的介質(zhì)層與金屬層的沉積,按工藝原理不同,可分為 CVD((化學(xué)氣相沉積)設(shè)備、PVD((物理氣相沉積)設(shè)備/電鍍設(shè)備和 ALD(原子層沉積)設(shè)備。

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          1)PVD:在真空條件下采用物理方法將材料源(固體或液體)表面氣化成氣態(tài)原子或分子,或部分電離成離子,并通過低壓氣體(或等離子體),在基體表面沉積具有某種特殊功能的薄膜的技術(shù)。PVD 鍍膜技術(shù)主要分為三類:真空蒸發(fā)鍍膜、真空濺射鍍膜和真空離子鍍膜。PVD 技術(shù)生長機理簡單,沉積速率高,但一般只適用于平面的膜層制備。


          2)CVD:通過化學(xué)反應(yīng)的方式,利用加熱、等離子或光輻射等各種能源,在反應(yīng)器內(nèi)使氣態(tài)或蒸汽狀態(tài)的化學(xué)物質(zhì)在氣相或氣固界面上經(jīng)化學(xué)反應(yīng)形成固態(tài)沉積物的技術(shù),是一種通過氣體混合的化學(xué)反應(yīng)在基體表面沉積薄膜的工藝,可應(yīng)用于絕緣薄膜、硬掩模層以及金屬膜層的沉積。按照薄膜材料,CVD 分為介質(zhì)化學(xué)氣相沉積(DCVD)和金屬化學(xué)氣相沉積(MCVD)兩大類。DCVD 主要包括等離子增強型化學(xué)氣相沉積(PECVD)、次常壓化學(xué)氣相沉積(SACVD)、介質(zhì)原子層沉積(DALD)等。MCVD 主要包括低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)、有機金屬化學(xué)氣相沉積(MOCVD)和金屬原子層沉積(MALD)等。


          3)ALD:原子層沉積可以將物質(zhì)以單原子膜形式一層一層地鍍在基底表面。從原理上說,ALD 是通過化學(xué)反應(yīng)得到生成物,但在沉積反應(yīng)原理、沉積反應(yīng)條件的要求和沉積層的質(zhì)量上都與傳統(tǒng)的 CVD 不同。相對于傳統(tǒng)的沉積工藝而言,ALD 工藝具有自限制生長的特點,可精確控制薄膜的厚度,制備的薄膜具有均勻的厚度和優(yōu)異的一致性,臺階覆蓋率高,特別適合深槽結(jié)構(gòu)中的薄膜生長。ALD 設(shè)備沉積的薄膜具有非常精確的膜厚控制和非常優(yōu)越的臺階覆蓋率,在 28nm 以下關(guān)鍵尺寸縮小的雙曝光工藝方面取得了越來越廣泛的應(yīng)用,其沉積的 Spacer 材料的寬度決定了 Fin 的寬度,是制約邏輯芯片制程先進程度的核心因素之一,除此之外,ALD 設(shè)備在高 k 材料、金屬柵、STI、BSI 等工藝中均存在大量應(yīng)用,廣泛應(yīng)用于 CMOS 器件、存儲芯片、TSV 封裝等半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。

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          CVD 領(lǐng)域 PECVD 設(shè)備占比較高,PVD 領(lǐng)域主要為濺射 PVD 設(shè)備。常壓化學(xué)氣相沉積(APCVD)是最早的 CVD 設(shè)備,結(jié)構(gòu)簡單、沉積速率高,廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)中。低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)是在 APCVD 的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。等離子體增強化學(xué)氣相沉積設(shè)備(PECVD)在從亞微米發(fā)展到 90nm 的 IC 制造技術(shù)過程中,扮演了重要的角色,由于等離子體的作用,化學(xué)反應(yīng)溫度明顯降低,薄膜純度得到提高,致密度得以加強,是當(dāng)前應(yīng)用最為廣泛的 CVD 設(shè)備,在薄膜沉積設(shè)備中占比達(dá) 33%。次常壓化學(xué)氣相沉積(SACVD)主要應(yīng)用于溝槽填充工藝。在 PVD 設(shè)備中,濺射設(shè)備占主要份額。

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    資料來源:源晶格半導(dǎo)體知識公眾號



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