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    粉末X射線衍射儀
    • 日本理學(xué)X射線衍射儀MiniFlex 600,電子天平_紅外光譜儀_實(shí)驗(yàn)室分析儀器_長(zhǎng)沙創(chuàng)航科學(xué)儀器有限公司
    日本理學(xué)X射線衍射儀MiniFlex 600
    簡(jiǎn)要說(shuō)明:
    桌面式/臺(tái)式,
    功率:600W,固定靶
    多種附件可以選配

    儀器品牌:日本理學(xué) Rigaku
    儀器名稱(chēng):X射線衍射儀
    儀器型號(hào):MiniFlex600
    公司電話(huà):0731-85238098
    聯(lián)系手機(jī):13755178098
    官方網(wǎng)址:http://www.tmaiqq.cn/
    產(chǎn)品詳情

    創(chuàng)新歷程:

    1973年、理學(xué)公司推出了世界上首款商用臺(tái)式X射線衍射儀Gen1,體積小巧,只相當(dāng)于當(dāng)時(shí)傳統(tǒng)X射線衍射儀的十分之一

    1976年、第二代臺(tái)式機(jī)Gen2問(wèn)世, 其最大功率與Gen1同為300Wo

    1995年、推出第三代臺(tái)式機(jī),并命名為MiniFlex+。 采用Windows®PC控制,在30kV、 15mA條件下工作時(shí),其X射線功率高達(dá)450W。 從MiniFlex+開(kāi)始 理學(xué)的臺(tái)式機(jī)均采用豎式測(cè)角儀 并配用自動(dòng)進(jìn)樣器。

    2006年、 第四代臺(tái)式機(jī)MiniFlex II問(wèn)世,可以搭載D/teX Ultra 一維探測(cè)器(選配)。

    2012年、 推出第五代臺(tái)式機(jī)MiniFlex600,除原有的600W大功率以外,還新增了PDXL粉末衍射軟件。


          理學(xué)的MiniFlex是功能齊全的通用型X射線衍射儀可進(jìn)行多晶材料的定性和定量分析。在定性分析中可通過(guò)與己知相數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行對(duì)比來(lái)識(shí)別未知結(jié)構(gòu)(化學(xué)組成或晶相)。在定量分析中,可分析固體混合物表征,以確定晶體化合物的相對(duì)舍量。外型小巧方便,具有近于高端分析儀器的測(cè)試性能,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域,是一種適用于大專(zhuān)院校學(xué)生實(shí)驗(yàn)及研究的X射線衍射儀,特別適合于野外作業(yè)進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)解析;Miniflex600系列也是一種適用于工廠生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量管理檢查,勞動(dòng)保護(hù)、環(huán)境污染測(cè)量的X射線衍射儀。 


         新開(kāi)發(fā)的SmartlabStudio ll軟件包具有棄常人性化的GUI,便于數(shù)據(jù)采集和分析。用戶(hù)可從各種插件選擇所需的模塊,如“X射線衍射測(cè)量”、“粉末X射線衍射”和“數(shù)據(jù)管理”等,并可在單個(gè)平臺(tái)上自由操作各種模塊,使測(cè)量和分析齊頭并進(jìn)。

    Smartlab Studio ll通過(guò)自動(dòng)流程條提示從設(shè)置、測(cè)量到分析和報(bào)告生成的必要步驟,即使沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的用 戶(hù)也可輕松操作。

    Smartlab Studio ll具有下列功能:

    搜索匹配分析

    結(jié)晶度

    晶系精修

    指標(biāo)化

    定量分析

    晶粒尺寸和晶格畸變

    全圖擬合

    Riedveld精修

    晶格常數(shù)精修


    多種附件選配;

    1、自動(dòng)進(jìn)樣:最多可放8個(gè)樣晶,并帶旋轉(zhuǎn)功能。

    2、旋轉(zhuǎn)樣晶臺(tái):可連續(xù)旋轉(zhuǎn),從而減少取向的影響。

    3、高溫附件:BTS150和BTS500在高溫條件下(室溫~150°C或室溫~500°C)進(jìn)行原位測(cè)量。

    4、氣密性樣品臺(tái):適用于不直在空氣中分析的樣晶。

    5、樣晶架:無(wú)反射樣晶架在內(nèi)的各種樣晶架,以滿(mǎn)足用戶(hù)的不同需求。

    6、多維測(cè)量硅陣列探測(cè)器:空間分辨率高,可在一維或二維模式下測(cè)試





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